「良率下半场」系列沙龙深圳站，聚焦芯片测试数据分析与良率管理数智化，10 月 15 日 14:00 至 16:30 在深圳举行，免费报名，500 个名额已报名 10 人。
议程包括《芯片良率管理数智化升级白皮书》发布与解读、芯片设计公司数智化良率管理实践案例分享，以及围绕测试数据管理、良率异常定位、产业链数据协同的互动讨论；现场可体验 PCM、CP、FT 全流程测试数据分析。主办方称报名即开通 RapidTDAS PLUS 一个月试用，到场赠白皮书。
适合芯片设计与封测企业的质量、测试、研发部门负责人与工程师。
